Tecnologia desenvolvida no Inmetro tem primeira patente concedida nos Estados Unidos

Uma tecnologia desenvolvida por pesquisadores da Divisão de Metrologia de Materiais (Dimci/Dimat), em parceria com o Laboratório de Nanoespectroscopia (LabNS), da Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG), teve a patente concedida pelo USPTO – Escritório de Patentes e Marcas dos Estados Unidos.

A invenção consiste no desenvolvimento de sondas opticamente eficientes, para uso na técnica de Nanoespectroscopia Raman (TERS, do inglês “tip-enhanced Raman spectroscopy”), utilizada no estudo e caracterização de diferentes nanomateriais como nanoestruturas de carbono, nanopartículas semicondutoras e proteínas.

Pesquisadores da Divisão de Metrologia de Materiais (Dimci/Dimat). Da esquerda para direita: Bruno Oliveira, Dr. Thiago Vasconcelos, prof. Carlos Achete, Dr. Bráulio Archanjo

De acordo com o pesquisador da Dimat, Thiago L. Vasconcelos, TERS é uma técnica desenvolvida recentemente, com os primeiros trabalhos publicados no início dos anos 2000 e vive, desde então, uma limitação técnica: a produção de sondas reprodutíveis e opticamente eficientes. É esse o desafio que os pesquisadores pretendem ultrapassar. “A sonda é o coração da técnica, o instrumento que permite a quebra do limite de resolução, gerando imagens ópticas e espectroscópicas dentro da escala nanométrica. Pode-se pensar nela enquanto uma ponteira que confina a luz em seu ápice, como uma nano fonte de luz. Usando-a bem próxima da amostra, é possível gerar imagens cuja resolução passa a ser relacionada ao tamanho de seu ápice, neste caso 10 nm, bem superior aos aproximadamente 300 nm, limites das técnicas convencionais”, explicou.

Thiago L. Vasconcelos, pesquisador da Dimat

A invenção trata de um método que intensifica de forma reprodutível e controlada a eficiência óptica da sonda de TERS, ou seja, aumenta sua capacidade de gerar imagens e espectros ópticos na escala Nano. Com isso, o dispositivo não só melhora a qualidade dos resultados obtidos com a técnica, trazendo novas possibilidades de pesquisa e desenvolvimento, como também abre portas para o estudo pioneiro da metrologia em TERS.

O pedido da patente foi redigido na Divisão de Inovação Tecnológica (Ditec) do Inmetro e depositado em conjunto com a UFMG, primeiro no Brasil (maio de 2015) e, depois de 12 meses, no depósito internacional PCT. Em seguida, o pedido foi encaminhado aos Estados Unidos, à China e ao escritório europeu.

Equipe do laboratório de Nanoespectroscopia (LabNS), da Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG). Da esquerda para direita: Douglas Ribeiro, Cassiano Rabelo, prof. Ado Jorio, prof. Luiz Gustavo Cançado e prof. Wagner Rodrigues.

Esta patente é a primeira do Inmetro a ser concedida nos Estados Unidos, tendo validade de 20 anos naquele país, contados a partir da data do depósito internacional PCT (maio de 2016). De acordo com Ana Paula Azevedo, da Ditec, o deferimento pelo escritório americano não implica no mesmo resultado para os pedidos feitos em outros países, mas é um bom indicativo. “O processamento é distinto em cada país, porque cada um tem sua lei de propriedade intelectual. Como os Estados Unidos têm um sistema bastante rigoroso, há grande chance de conseguir o deferimento nos demais escritórios”, explicou.

A concessão da patente tende a aumentar o valor da tecnologia, uma vez que, se houver licenciamento, ele é feito já havendo direitos referentes à propriedade intelectual. A equipe da Dimat continua trabalhando no aprimoramento das sondas e já tem outras quatro tecnologias com pedidos de patentes depositados no Brasil, sendo duas delas depositadas também em outros países.