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Inscrições abertas para o Painel Setorial Metrologia Forense na Análise de DNA
O Inmetro promove, na próxima quarta-feira, 28 de julho, o Painel Setorial Metrologia Forense na Análise de DNA. O evento é gratuito e aberto ao público. Confira a programação e como se inscrever.
Publicado em
22/07/2010 00h00
Atualizado em
30/10/2026 15h47
Confira a programação* do evento:
* inscrições encerradas em 27/9/2010