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Inmetro reúne especialistas de 32 países em evento internacional de metrologia

O Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) promove entre os dias 9 e 16 dezembro a I Escola de Metrologia do Sistema Interamericano de Metrologia (SIM).
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Publicado em 14/12/2009 00h00 Atualizado em 30/10/2026 15h45

O Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) promove entre os dias 9 e 16 dezembro a I Escola de Metrologia do Sistema Interamericano de Metrologia (SIM). O encontro pioneiro reúne cerca de 60 novos talentos do meio, provenientes de 32 diferentes países das Américas, Ásia e África. A proposta é auxiliar na formação da nova geração de metrologista, por meio de treinamento nas mais diversas áreas da metrologia, além de debater projetos que vêm sendo desenvolvidos, os desafios e o futuro da profissão. O evento realizado no Hotel Quitandinha, em Petrópolis, região Serrana do Rio de Janeiro, conta com o apoio da Agência Brasileira de Cooperação, ligada ao Ministério das Relações Exteriores.

A mesa de abertura foi composta pelo Diretor de Metrologia Cientifica e Indústrial do Inmetro, Humberto Brandi, pelo representante do NIST William Anderson e pela representante da ABC, Larisa Gaivizzo

“Decidimos fazer um encontro nesses moldes para compartilhar experiências e multiplicar conhecimento. A adesão do público mostra que o Brasil está no caminho certo na área de metrologia, tendo conquistado uma posição de liderança em âmbito internacional, com estrutura reconhecida e credenciada”, disse Humberto Brandi, diretor de Metrologia Científica e Industrial do Inmetro e presidente do SIM.

Humberto Brandi, diretor de Metrologia Científica e Industrial do Inmetro e presidente do SIM, em seu discurso

Com cerca de 25 palestrantes de países como EUA, Canadá, Uruguai, Argentina, México e Brasil, coube a William Anderson, representante do NIST, entidade equivalente ao Inmetro nos Estados Unidos, falar sobre Metrologia Internacional. “Adotar práticas adequadas de metrologia é essencial para os países apoiarem o desenvolvimento da indústria, melhorar a qualidade de vida da sociedade e apoiar a ciência e outras agências governamentais”, disse Anderson.

 Apresentação de William Anderson, representante do NIST, sobre Metrologia Internacional

O primeiro dia de apresentações incluiu exposição de José Carlos Valente, chefe da divisão de Mecânica do Inmetro, que concedeu palestra sobre o Vocabulário Internacional de Metrologia. “É importante harmonizarmos entre os países as terminologias técnicas, até por conta da globalização da economia, permitindo que profissionais de diferentes países trabalhem em parceria e não tenham entendimentos diferentes”, resumiu Valente.

Palestra sobre o Vocabulário Internacional de Metrologia com o chefe da divisão de Mecânica do Inmetro, José Carlos Valente

O período da tarde foi aberto por Antonio Possolo, do departamento de engenharia estatística do NIST, que concedeu palestra sobre Incerteza na Medição. O primeiro dia do encontro foi encerrado com a apresentação de Annamaria Narizano, do Laboratório Tecnológico do Uruguai, que falou sobre Qualidade de Gerenciamento em Sistemas de Suporte.

Palestra sobre Incerteza na Medição, com Antonio Possolo, do departamento de engenharia estatística do NIST

Com duração de uma semana, a I Escola de Metrologia segue o padrão internacional de multiplicação de conhecimentos adotado pelo Bureau Internacional de Pesos e Medidas (BIPM), que organiza, a cada quatro anos, extenso treinamento para os jovens metrologistas do mundo. A idéia do programa é intercalar aulas teóricas com aulas práticas nos laboratórios do Campus do Inmetro, em Xerém, no Rio de Janeiro. O programa técnico abrange desde áreas tradicionais da metrologia, como mecânica, elétrica e térmica, até aquelas de evolução recente como a nanometrologia e a biometrologia.

Visita aos laboratórios da Divisão de Metrologia Acústica e Vibrações do Inmetro 

Visita aos laboratórios da Divisão de Metrologia Acústica e Vibrações do Inmetro 

Dividido em cinco regiões, o SIM é composto por organizações de metrologia de 34 países nas Américas. Criada para a promoção internacional dessa ciência, a entidade tem como missão a promoção e o apoio para a construção de uma infrastrutura de medição integrada nas Américas, assegurando equidade no mercado, promovendo a qualidade de vida, assim como o comércio internacional.

           
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