Inmetro realiza 2ª edição dos Seminários de Metrologia Científica com enfoque em Inteligência Artificial

Nesta segunda-feira, 27 de maio, o Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro) realizou a segunda edição dos Seminários de Metrologia Científica, intitulada "Metrology for Artificial Intelligence". O evento, realizado no Campus do Inmetro, em Xerém, contou com a presença de Maik Liebl, pesquisador da Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) de Berlim, Alemanha e reuniu profissionais, acadêmicos e estudantes interessados em explorar as fronteiras da metrologia e da inteligência artificial.

O especialista em Inteligência Artificial (IA), Maik Liebl, apresentou parte de sua pesquisa realizada no Instituto de Metrologia Alemão, que utiliza a tecnologia para a interpretação experimental de dados em exames médicos, como ressonância magnética e eletrocardiograma. Segundo ele, no futuro, será possível a elaboração de diagnósticos de doenças no cérebro e no coração por IA, por exemplo.

Para Liebl, um dos maiores desafios encontrados é a captação e o processamento de dados, área em que a colaboração com institutos como o Inmetro pode ser importante: “Os dados são baseados em medidas. A metrologia é essencial para verificarmos a qualidade das métricas, a precisão das informações e validar esses sistemas de IA, que ainda estão em estágios iniciais”, ressaltou.

O chefe da Divisão de Ensino de Ensino e Pesquisa (Diepi), Charles Prado, destacou a importância do tema para a pauta mundial e a oportunidade de troca entre os pesquisadores do Inmetro e de outros Institutos Metrológicos. “Avaliar sistemas críticos baseados em Inteligência Artificial é, atualmente, um dos grandes desafios dos Institutos Metrológicos. E, a cooperação do Inmetro com PTB é fundamental para o conhecimento e o desenvolvimento de novas metodologias para prover rastreabilidade e confiabilidade metrológica a sistemas críticos baseados em IA”, ressalta Charles.

Segundo o presidente do Inmetro, Márcio André Brito, a edição dos Seminários de Metrologia Científica reforça a importância de eventos como este para o avanço da pesquisa e desenvolvimento no Brasil. “A presença de especialistas internacionais como Maik Liebl contribui significativamente para a internacionalização das práticas científicas e para a integração do país nas tendências globais de inovação tecnológica", ressaltou Brito.

Sobre o Palestrante

Maik é bacharel e mestre em engenharia biomédica pela Technical University of Ilmenau, Lieb. Iniciou sua carreira na PTB em 2011, focando no desenvolvimento de modalidades de imagem biomédica. Sua trajetória acadêmica culminou com a obtenção de um doutorado nesta área. Em 2022, Liebl completou o programa de trainee do PTB e atualmente coordena uma plataforma de testes online para algoritmos de inteligência artificial (IA) aplicados à medicina.