Inmetro promove Painel Setorial de Metrologia Forense na análise de DNA nesta quarta

O Inmetro realiza nesta quarta-feira, dia 28 de julho, das 9 h às 17 h, o Painel Setorial de Metrologia Forense na Análise de DNA. O evento acontecerá no auditório do Prédio 6 do Campus de Laboratórios, em Xerém. Em 2010, comemora-se o 25º aniversário da primeira publicação descrevendo a identificação humana pela análise de DNA. Desde então, essa técnica vem sendo utilizada e discutida no combate ao crime em todo o mundo. As discussões giram em torno da confiabilidade, credibilidade e qualidade dos resultados gerados a pedido da Justiça, de forma a contribuir para o índice de solução de crimes, assim como prevenir condenações errôneas e/ou a desqualificação dos laudos e dos próprios peritos pelo Sistema Judicial. No Brasil, a implantação de medidas para a garantia da qualidade nas perícias tem sido coordenadas pelo Inmetro, a partir de uma cooperação com o Ministério da Justiça.O discurso de abertura será do presidente do Inmetro, João Jornada. Em seguida, o diretor de Programa, Wanderley Souza, apresentará o módulo I sobre "Programa de Metrologia Forense do Inmetro" e o coordenador-geral de Acreditação, Marcos Aurélio Lima de Oliveira, apresentará o módulo II sobre o "Programa de Acreditação para Laboratórios de Perícia Forenses".A última atividade do dia será a Agenda de Entendimento com Edson Wagner Barroso, da Secretaria Nacional de Segurança Pública/Ministério da Justiça (Senasp/MJ).Veja a programação completa: