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Inmetro inicia articulação com Ceitec para apoiar a indústria de semicondutores no Brasil
Representantes do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro) visitaram no dia 30/9, a sede da Ceitec S.A, em Porto Alegre (RS), uma empresa pública gaúcha, vinculada ao Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (MCTI) que atua no segmento de semicondutores. O encontro teve como objetivo identificar pontos de convergência entre as duas instituições e avaliar de que forma a metrologia pode contribuir para o fortalecimento da indústria de semicondutores no Brasil.
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De acordo com Danielle Assafin Vieira Souza Silva, diretora de Metrologia Científica, Industrial e Tecnologia (Dimci) do Inmetro: “Essa aproximação faz muito sentido, já que a produção de semicondutores é um processo altamente metrológico. Nosso objetivo é compreender os desafios tecnológicos da Ceitec e estruturar uma agenda positiva de cooperação que possa apoiar a indústria brasileira”, destacou.
Para o superintendente da Superintendência do Inmetro no Estado do Rio Grande do Sul (Surrs), Omer Pohlmann Filho, a parceria traz ganhos diretos ao desenvolvimento tecnológico nacional. “Estar próximo da Ceitec é estratégico, pois trata-se de uma empresa pública gaúcha, que representa a capacidade do Brasil em avançar na produção de semicondutores. O apoio do Inmetro nesse processo contribui para ampliar a competitividade da indústria e fortalecer a soberania tecnológica do país”, afirmou.
Além do impacto nacional, a aproximação também favorece o Rio Grande do Sul, já que a Ceitec está instalada em Porto Alegre e concentra mão de obra altamente qualificada. A expectativa é que a cooperação com o Inmetro ajude a consolidar o estado como um polo de inovação em semicondutores, atraindo investimentos, fortalecendo o ecossistema científico e tecnológico local e ampliando oportunidades para profissionais da região.
🔬 Microscopia e inovação tecnológica
Durante a visita, a equipe da Dimci apresentou as possibilidades de apoio em diferentes áreas, como ótica, elétrica e química, além de destacar o parque de microscopia do Inmetro, que funciona na modalidade multiusuário e pode ser acessado por outras instituições, incluindo a própria Ceitec. O foco principal é avaliar como a microscopia, embarcada no processo de fabricação de chips, pode gerar colaborações estratégicas entre os laboratórios das duas entidades.
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Do ponto de vista da Ceitec, a parceria é considerada promissora. “A visita recente da equipe do Inmetro reforça a possibilidade de cooperação institucional. Identificamos temas técnicos importantes, como a rastreabilidade em escala nanométrica e o uso da microscopia eletrônica como suporte às atividades de P&D. Inclusive, planejamos uma visita técnica recíproca para aprofundar as discussões e embasar a construção de um acordo de cooperação”, afirmou Eric Fabris, diretor técnico da Ceitec.
Para o Inmetro, a aproximação representa um avanço estratégico, pois permite alinhar a metrologia científica às demandas de um setor altamente especializado e essencial para a soberania tecnológica do país.
Participaram do encontro Danielle Assafin Vieira Souza Silva, Diretora de Metrologia Científica, Industrial e Tecnologia (Dimci/Inmetro); Oleksii Kuznetsov, Chefe da Divisão de Metrologia de Materiais (Dimat/Inmetro); Braulio Soares, Chefe do Laboratório de Microscopia (Labmi/Inmetro); Omer Pohlmann Filho, Superintendente da SURRS; Joel Franceschini, Chefe do Núcleo de Gestão Técnica da Surrs; Eric Fabris - Diretor Técnico da Ceitec; Luiz Antônio Piccoli Junior - Superintendente de Fábrica da Ceitec.