Debates sobre o futuro da metrologia e da inovação marcam a Jornada de Pós-Graduação do Inmetro

O Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro) realizou nos dias 10 e 11 de novembro, no Campus Dr. Armênio Lobo da Cunha Filho, em Xerém, a segunda edição da Jornada de Pós-Graduação. O evento, organizado pelo Centro de Educação e Disseminação em Infraestrutura da Qualidade (Cediq), reuniu estudantes, cientistas e profissionais da indústria ao longo de dois dias para apresentar pesquisas, discutir tendências tecnológicas e reforçar a integração entre ciência e setor produtivo.

A abertura foi conduzida pela chefe do Centro de Educação e Disseminação da Infraestrutura da Qualidade (Cediq), Tatiana Claro, que ressaltou a importância da jornada para o fortalecimento da pós-graduação e o intercâmbio de conhecimento entre os participantes.

"A Jornada é uma demonstração do nosso compromisso com a formação, a pesquisa e a extensão. É um momento em que nossos alunos e professores compartilham o que estão desenvolvendo, trocam experiências e fortalecem o diálogo entre ciência e setor produtivo. Essa integração é essencial para que as pesquisas da pós-graduação contribuam diretamente com a infraestrutura da qualidade (IQ) e com a inovação no país", destacou Tatiana.

Em seguida, o consultor do Serviço Brasileiro de Apoio às Micro e Pequenas Empresas do Rio de Janeiro (Sebrae-RJ), Marcos Francisco Barbosa Assis, apresentou a palestra “Empreendedorismo e Inovação” e incentivou o público a enxergar seus conhecimentos técnicos como potenciais soluções de negócio e oportunidades de inovação.

A Jornada também contou com sessões de apresentação de pesquisas, relatos de egressos e momentos voltados à troca de experiências entre academia e indústria, realizadas em 10 de novembro. Os trabalhos inscritos refletem a amplitude temática da pós-graduação do Inmetro, que envolve áreas como metrologia aplicada, biotecnologia e tecnologias digitais, reforçando o papel do instituto na produção de conhecimento científico e na formação de especialistas. 

Entre os egressos participantes está o diretor de Metrologia Legal do Inmetro (Dimel), Marcelo Morais, que compartilhou sua trajetória e destacou como o programa impactou sua carreira. “A pós-graduação do Inmetro foi um divisor de águas na minha vida profissional e pessoal. Ela ampliou minha visão sobre a metrologia e me ajudou a entender melhor a integração entre pesquisa, indústria e infraestrutura da qualidade. Muitos dos projetos que desenvolvemos hoje na Metrologia Legal têm origem no que aprendi durante o mestrado e continuam contribuindo para modernizar e fortalecer o nosso trabalho”, afirmou Marcelo.

Na terça-feira (11/11), a programação continuou com um ciclo de palestras voltado ao papel da metrologia e da inovação no desenvolvimento nacional. A diretora de Metrologia Científica, Industrial e Tecnologia (Dimci), Danielle Assafin Vieira Souza Silva, realizou a abertura do ciclo de palestras. 

“A importância das atividades de ensino para a Dimci é central e precisa ser ressaltada. A Jornada é bastante simbólica e representativa, pois firma o compromisso do Inmetro com as ações de educação. Essas atividades fortalecem, catalisam e reforçam o papel de disseminar a metrologia para a sociedade. Seus efeitos são viscerais e estratégicos, à medida que ampliam redes e conexões com a sociedade brasileira como um todo, reforçando de maneira significativa a missão institucional", ressaltou.

Em seguida, especialistas convidados apresentaram temas relevantes para a formação e o desenvolvimento dos pesquisadores:

● Carlos Alberto Aragão de Carvalho Filho, ex-presidente do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) e ex-diretor de Inovação do Inmetro, falou sobre “A Finep no apoio à ciência, tecnologia e inovação”. 

● Rodney Murito, coordenador de Metrologia e Processos de Medições da Michelin América do Sul, discutiu “A importância da formação em metrologia para a indústria brasileira”.

● Alexandre Mendes, professor e pesquisador do Instituto Federal do Rio de Janeiro IFRJ e vice-presidente da Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM), apresentou “O papel da SBM na formação do metrologista”.

A programação do evento destacou a produção científica dos discentes, totalizando 12 apresentações orais de trabalhos selecionados e a exposição de 45 pôsteres.

Todos os trabalhos de pôster foram avaliados por uma banca de docentes dos programas, culminando na premiação dos três melhores. 

Os discentes vencedores foram:

• 1º Lugar: Rosana Medeiros Moreira (Tema: Protocolo de medição  para avaliação de implantes mamários).

• 2º Lugar: Stephanie Sousa da Silva (Tema: Estratégias para redução de acidentes de trânsito baseadas em monetização de dados de telemetria veicular).

• 3º Lugar: Giovanna Fonseca Borghi de Almeida (Tema: Metrologia aplicada para o desenvolvimento de dispositivos para monitoramento de radiação UV-C germicida).

A Jornada de Pós-Graduação reforça o compromisso institucional com a disseminação científica, a formação de recursos humanos qualificados e a valorização das linhas de pesquisa estratégicas para o país, consolidando o evento como um espaço anual de integração e visibilidade para as atividades acadêmicas do Inmetro.