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Você está aqui: Página Inicial Centrais de Conteúdo Eventos Dia Mundial da Metrologia - 2019
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Dia Mundial da Metrologia - 2019

Dia 20/05 , em Auditório da Confederação Nacional do Comércio de Bens, Serviços e Turismo – CNC
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Publicado em 11/08/2020 08h27 Atualizado em 13/09/2021 11h30
Para celebrar o Dia Mundial da Metrologia, o Inmetro promoverá um evento em que serão apresentados os desdobramentos da redefinição do SI para a metrologia e seus reflexos no setor produtivo e na sociedade. Palestrantes convidados apontarão as mudanças na área de cada unidade e como a ciência, a metrologia e as novas tecnologias são impactadas pelas alterações.
  • Programação

    13 h 30 min

    Credenciamento

    14 h

    Abertura
    Angela Flôres Furtado – Presidente do Inmetro
    Valnei Smarçaro – Diretor de Metrologia Científica do Inmetro

    14 h 30 min

    Mesa redonda: Redefinição do Sistema Internacional de Unidades (SI)

    Unidade quilograma
    Fabio Andre Ludolf Cacais – Pesquisador bolsista do Inmetro

    Unidade kelvin
    Klaus Natorf Quelhas – Chefe do Laboratório de Termometria do Inmetro

    Unidade mol
    Bruno Carius Garrido – Chefe substituto da Divisão de Metrologia Química e Térmica

    Unidade ampère 
    Regis Pinheiro Landim – Chefe do Laboratório de Metrologia de Elétrica Quântica 

    Impacto das mudanças do sistema internacional de unidades nas perspectivas futuras na Metrologia Legal
    Marcos Trevisan Vasconcellos – Diretor de Metrologia Legal 

    Impacto das mudanças do sistema internacional de unidades para as medições na área biológica
    Marcelo Neves de Medeiros – Pesquisador Tecnologista do Inmetro

    Metrologia 4.0
    Rodolfo Saboia Lima de Souza - Chefe da Divisão de Metrologia em Tecnologia da Informação e Telecomunicação

    Mediação
    Rafael Vaz - Pesquisador tecnologista em metrologia e qualidade do Inmetro

    16 h 30 min

    Coffee-break

    16 h 45 min

    Lançamento: Cadernos de Metrologia

    17 h Encerramento
  • Palestrantes

    Marcos Trevisan Vasconcelos

    Graduado em Engenharia Elétrica pela Universidade Federal de Santa Maria – RS (1988), concluiu o mestrado (1995) e doutorado (1999) ne Engenharia Elétrica, ambos pela Universidade Estadual de Campinas, na área de Sistemas Elétricos de Potência. Foi professor Adjunto III da Pontifícia Universidade Católica de Minas Gerais, onde foi Diretor de Graduação e Coordenador do Curso de Engenharia Elétrica no campus de Poços de Caldas – MG. Atualmente é Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade no INMETRO, em Duque de Caxias – RJ. Foi chefe da Divisão de Instrumentação, Software e Condições Ambientais e da Divisão de Supervisão em Metrologia Legal. Atualmente é Diretor de Metrologia Legal em Exercício, no Inmetro. Sua área de formação inclui Sistemas Elétricos de Potência, Otimização Linear e Não-Linear, Programação Científica, Metrologia e Metrologia Legal. 


    Régis Pinheiro Landim

    Doutor em Engenharia Elétrica pela Universidade Federal de Minas Gerais (2000) e graduação em Engenharia Elétrica pela Universidade Federal de Pernambuco (1996). Trabalha desde 2002 no Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro) onde, desde 2012 é o responsável pelo Laboratório de Metrologia Elétrica Quântica. Fez pós-doutorado em metrologia elétrica quântica (padronização primária de tensão baseado no efeito Josephson), de 08/2006 a 07/2007 no National Institute of Standards and Technology (NIST), EUA. Atua na área de Engenharia Elétrica, com ênfase em medidas elétricas, magnéticas e eletrônicas, instrumentação, em padrões de tensão Josephson cc e ca e suas aplicações em metrologia, que são suas áreas de interesse em pesquisa. É responsável pela realização e disseminação do volt no Brasil, bem como pela manutenção de maneira internacionalmente consistente do padrão de tensão, alinhado às unidades do Sistema Internacional de Unidades. Faz parte do corpo docente do Programa de Pós-Graduação em Metrologia e Qualidade do Inmetro desde 2015.


    Marcelo Neves de Medeiros

    Pesquisador- Tecnologista em Metrologia e Qualidade; Qualificado pela Cgcre (Coordenação Geral de Acreditação do INMETRO) como avaliador técnico na ABNT NBR ISO/IEC 17025:2017 - Requisitos gerais para laboratórios de ensaios e calibração. Em processo de qualificação para inspetor de instalações de teste com base nos OECD Principles of Good Laboratory Practices; avaliador técnico na ISO 17034:2017 (General requirementes for the competence of reference material producers) para acreditação de produtores de material de referência; e avaliador técnico na ISO Guide 34:2009 em combinação com o OECD Best practices guidelines for the Biological Resource Centres, para acreditação de Centros de Recursos Biológicos (CRBs). Membro do grupo da ABNT CEE 150 (Comissão Especial de Estudos da Associação Brasileira de Normas Técnicas) que espelha o ISO REMCO (Committee on Reference Materials) na discussão e votação dos documentos da ISO a respeito da harmonização em materiais de referência e internalização das normas ISO pela ABNT. Membro do grupo da ABNT CEE 276 que espelha o ISO TC 276 (Biotechnology) na discussão e votação dos documentos da ISO a respeito de produtos e processos biotecnológicos. Representante substituto do INMETRO (2017-presente) no Nucleic Acid Analysis Working Group (NAWG) no Consultative Committee for the Amount of Substance (CCQM) CIPM/BIPM. Secretário (desde 2016) e Coordenador (desde 2018) da Comissão Técnica 14, de Assessoramento da Cgcre para definição de políticas para acreditação de produtores de material de referência. Gestor da Qualidade substituto (2014-2015) e titular (2015-presente) da Diretoria de Metrologia Aplicada às Ciências da Vida (Dimav). Diretor substituto da Dimav (2015 - março 2019).


    Klaus Natorf Quelhas

    Graduado em Engenharia Elétrica pela Universidade do Estado do Rio de Janeiro (2010) e mestre em Engenharia de Sistemas e Computação pela Universidade Federal do Rio de Janeiro (2015). Atualmente está cursando Doutorado em Engenharia de Sistemas e Computação pela Universidade Federal do Rio de Janeiro, atua como chefe do Laboratório de Termometria do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro). Tem experiência em Metrologia, Técnicas Gerais de Laboratório, Sistema de Instrumentação e Computação, atuando principalmente nos seguintes temas: Metrologia, Termometria, Qualidade e Computação, com ênfase em Computação Gráfica, Processamento de Imagens, Visão Computacional, Computação de Alto Desempenho e Automação Laboratorial.


    Rodolfo Saboia Lima de Souza

    Graduado em Engenharia Elétrica pela Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (1989), possui mestrado em Engenharia Elétrica pela Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (1993) e doutorado em Engenharia Elétrica pela Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (2003). Atualmente é pesquisador-tecnologista em metrologia do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia-RJ. Tem experiência na área de Engenharia Elétrica, com ênfase em Teoria Eletromagnética, Micro-ondas, Propagação de Ondas, Antenas, atuando principalmente nos seguintes temas: Medidas em sistemas de radiodifusão, sistemas de acesso banda larga sem fio, 5G e Internet das Coisas.  


    Fabio Andre Ludolf Cacais

    Graduado em Licenciatura em Física pela Universidade Federal do Rio de Janeiro (2006) e Mestrado em Metrologia e Qualidade pelo INMETRO (2015). Tem 18 anos de experiência em processos de medição e em projetos de Pesquisa e Desenvolvimento na área de Metrologia de Massa. Atualmente é doutorando do Laboratório Nacional de Metrologia das Radiações Ionizantes (LNMRI/IRD/CNEN).


    Bruno Carius Garrido

    Farmacêutico graduado pela Universidade Federal do Rio de Janeiro - UFRJ e Doutor em Ciências - Química pela mesma instituição. Pós-doutorado na área de Ressonância Magnética Nuclear no Bureau International des Poids et Mesures (BIPM)- Sèvres - França. É Pesquisador do Divisão de Metrologia Química e Térmica do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (INMETRO). Atuou como analista no controle de dopagem e análise de resíduos em alimentos no LADETEC do Instituto de Química da Universidade Federal do Rio de Janeiro sendo responsável operacional, além de atuar em projetos relacionados ao desenvolvimento de metodologias analíticas e estudos de metabolismo de fármacos utilizando principalmente as técnicas cromatográficas e espectrometria de massas juntamente com a química orgânica, química analítica, farmacologia e toxicologia. Participou na equipe técnica responsável pelas análises de controle de dopagem nos Jogos Olímpicos Rio 2016 e é membro do Laboratory Expert Group da Agência Mundial Antidopagem (WADA). Ampla experiência em Cromatografia Gasosa de alta resolução, Cromatografia líquida de alta eficiência, Espectrometria de Massas e Ressonância Magnética Nuclear (RMN). Atuou como cientista visitante no BIPM no desenvolvimento de métodos analíticos de alto valor metrológico em RMN e espectrometria de massas. Atuou como Visitante no National Research Council Canada (NRC) também na área de RMN.


  • Informações úteis

    Sobre o evento

    Apresentações

  • Mais informações
    Renan Seixas Alvarenga | Eveline Robertis
    eventos@inmetro.gov.br | erobertis@inmetro.gov.br
    2563-2943 | (21) 2145-3089

Dia Mundial da Metrologia - 2019

Dia 20/05
Auditório da Confederação Nacional do Comércio de Bens, Serviços e Turismo – CNC
Av. General Justo, 307 - 9º andar - Centro, Rio de Janeiro - RJ, 20021-130
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