Microscopia Eletrônica

O Núcleo de Laboratório de Microscopia, possui à sua disposição as mais avançadas técnicas de caracterização microscópicas, que vão desde a microscopia eletrônica de varredura em modo ambiental até a microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução. Desta forma o laboratório busca estar sempre pronto para atender as mais diversas demandas no que se refere à caracterização microestrutural e elementar dos materiais, além de fornecer ferramentas indispensáveis para o desenvolvimento da nanociência e da nanotecnologia.

Linhas de Pesquisa

•             Nanociência, Nanotecnologia e Nanometrologia;

•             Caracterização e manipulação de novos materiais tais como: grafenos, nanotubos e nanopartículas;

•             Investigação de fenômenos químicos e estruturais de materiais nas escalas micrométrica, nanométrica e atômica;

•             Aplicação de tomografia na nanoescala por feixe de elétrons e íons para o estudo de diversos materiais;

•             Qualificação de aços, ligas metálicas e nanocompósitos na nanoescala por análise química e estrutural.

•             Caracterização de propriedades plasmonicas de nanomateriais metálicos por STEM-EELS;

•             Fabricação, manipulação e caracterização de nanoantenas ópticas – sondas da técnica de Nanoespectroscopia Raman (TERS);

•             Desenvolvimento de padrões dimensionais em escala nanométrica para as técnicas de microscopia eletrônica e para Nanoespectroscopia Raman (TERS);

Infraestrutura

•             Microscópio eletrônico de transmissão - modelo Titan 80-300 kV com corretor de aberração esférica e monocromador, FEI Company;

•             Microscópio eletrônico de transmissão - modelo Tecnai 80-120kV, FEI Company;

•             Microscópio de feixe dual - modelo Nova Nanolab 600, FEI Company;

•             Microscópio de feixe dual - modelo Helios Nanolab 650, FEI Company;

•             Microscópio eletrônico de varredura - modelo Magellan 450, FEI Company;

•             Microscópio eletrônico de varredura - modelo Quanta 200 FEI, Thermo Fisher;

•             Microscópio de Íons de Hélio (HIM) - modelo Orion NanoFab, Zeiss;

•             Sistema de Nanoespectroscopia Raman (TERS) – homebuilt, JPK/Andor/MadCityLabs.

Contatos
Chefe do Laboratório: Bráulio Soares Archanjo
bsarchanjo@inmetro.gov.br
Chefe Substituto: Thiago de Lourenço e Vasconcelos
tlvasconcelos@inmetro.gov.br
Metrologia de Materiais e Superfícies – Prédio 03
Microscopia Eletrônica
Endereço: Av. Nossa Senhora das Graças, 50 -Xerém
Duque de Caxias - RJ - CEP: 25250-020
Tel: (21) 2679-9021 ou (21) 2145-3217
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