Metrologia Dimensional

No Brasil, o Laboratório de Metrologia Dimensional é a referência nacional das grandezas comprimento e ângulo plano.

Linhas de Pesquisa

• Provimento de rastreabilidade metrológica em nanometrologia dimensional, por meio da calibração por difratometria de padrões bidimensionais utilizados para calibrar escalas “x” e “y” de microscópios eletrônicos.
• Desenvolvimento de métodos primários para a calibração de padrões de rugosidade e de padrões de amplificação vertical utilizados na calibração de rugosímetros.
• Estabelecimento de um método para calibração de padrão de rugosidade nanométrico.
• Desenvolvimento de métodos primários para a calibração de padrões de forma circular (padrões de circularidade) e padrões de amplificação radial (tipo “Flick”).
• Desenvolvimento de métodos de calibração de equipamentos como “laser trackers”, “laser tracers”, distanciômetros, estações totais e medidores de longas distâncias em geral. -Construção de uma base geodésica de 30 metros, para calibração dos instrumentos citados no item anterior.
• Desenvolvimento de métodos para medições dimensionais e geométricas de um conjunto pistão-cilindro com nível de exatidão adequado à padronização primária de pressão.
• Construção de uma base niveladora para calibração de escalas graduadas de precisão.
• Implantação da cadeia de rastreabilidade para a calibração padrões de engrenagem no Inmetro.
• Implantação da cadeia de rastreabilidade para a calibração padrões de roscas API no Inmetro.
• Projeto visando à calibração de padrões de referência para uso em calibração da ampliação ou da escala de microscópio óptico, microscópio eletrônico de varredura e fotogrametria.

Infraestrutura

• Sistema laser de medição
• Barra de esferas
• Bloco-padrão
• Calibrador anel liso (cilíndrico e cônico)
• Calibrador tampão liso (cilíndrico e cônico)
• Comparador eletrônico de deslocamento
• Esfera-padrão
• Régua padrão de retitude
• Padrão escalonado
• Régua graduada
• Polígono óptico
• Mesa indexadora de referência
• Autocolimador
• Nível eletrônico
• Mesa divisora
• Padrão de rugosidade (perfis periódico e aperiódico)
• Padrão de amplificação vertical
• Padrão de circularidade semiesférico
• Padrão de amplificação radial (tipo “Flick”)

Contato

Chefe do Laboratório: Marcos Motta de Souza
E-mail: mmsouza@inmetro.gov.br
Metrologia Mecânica – Prédio 03 – Metrologia Dimensional
Endereço: Av. Nossa Senhora das Graças, 50 -Xerém
Duque de Caxias - RJ - CEP: 25250-020
Tel: (21) 2679-9047 e (21) 2679-9020
Email: lamed@inmetro.gov.br