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Info

Graduate Program in Metrology

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Publicado em 23/06/2020 18h52 Atualizado em 28/01/2025 15h42

Pós-graduação em metrologia

Versão em português
The Graduate Program in Metrology is licensed by the Brazilian Ministry of Education through Ministerial Order n. 485, from 05/14/2020.

Both Academic Master Degree and PhD in Metrology aim is to train professionals in order to develop research activities concerning measurements and calibrations to support the new recommendations from International Bureau of Weights and Measures (BIPM), as well as the new metrological challenges in Physics, Chemistry and Biology, in such a way those can be integrated to information technology, communication, mathematics and engineering solutions.

Main areas and fields of research


Main area

Measurement science and its applications - metrology has a framework of technical and practical knowledge useful for diversified applications in scientific areas committed to pursuing excellence in measurement capability in the various areas of science and engineering.

Fields of research

Advanced measurement methods - aside from scientific and industrial approaches, metrology is also focused on the development of new reference materials and new measurement methods in various areas of technological application. For example, we point out the support for the development of measurement methods and reference materials for forensic sciences, contributing to provide reliable measurements in forensic metrology. New ultrasound measurement methods are also developed with greater focus on the quantitative aspects of measurement, integrating photoacoustic methods for biomedical applications.

This field of research also focuses on the development of computational methods for greater integration between physical, chemical and biological sciences, by using computational genomics algorithms.

Our objectives are:

  • To develop and improve measurement methods;
  • To foster new technologies in metrology;
  • To accomplish both pure and applied researches in metrology.


In order to achieve these objectives, this field of research is supported by the following projects:

  • Forensic metrology
  • Quantitative ultrasound and photoacoustic
  • Computational genomics
  • Measurement and image processing


Support for industrial technology development - metrology is an important area of knowledge to support the development of industrial technology, so that it generates innovation in new processes. Within scientific metrology, support is given to the use of metrological references according to the standardization of SI units. Under industrial metrology, the development of measurement and calibration capabilities is encouraged to promote the dissemination of SI units. Metrology is also present in the development of nanotechnology and biotechnology, focusing on measurement methods and references for nanobiometrology. Additionally, the current demands for innovation in industrial processes demand the integration of Information and Communication Technology (ICT) solutions to metrological processes for controlling and monitoring, in a way that the implementation and development of Industry 4.0 can be supported. In addition to these demands, the use of ICT solutions can help increase the reliability of systems, devices and equipment used to measure and verify legal metrology actions.

Our objectives are:

  • To develop projects which are related to primary standard;
  • To disseminate measurement standards for the industry;
  • To keep up with metrology state of the art.

In order to achieve these objectives, this field of research is supported by the following projects:

  • Standardization and dissemination of SI units
  • Nanobiometrology
  • Support for Industry 4.0 development
  • ICT adoption to promote reliability in measurement systems

Coordinator and Program Faculty

Coordinator

Rodrigo Pereira Barretto da Costa Felix

Assistant Coordinator

Renata Carvalho Silva 

Program Faculty

Braulio Soares Archanjo

Carlos Alberto Achete

Charles Bezerra do Prado

Julio Jablonski Amaral

Luiz Fernando Rust da Costa Carmo

Luiz Vicente Gomes Tarelho

Raphael Carlos Santos Machado

Renata Carvalho Silva

Rodrigo Pereira Barretto da Costa Felix

Rodrigo Pereira David

Vanderléa de Souza

Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Wilson de Souza Melo Junior


Former students

Former student Degree Lattes link
1 AGDA BEATRIZ GONCALVES COSTA http://lattes.cnpq.br/4576483799093464
2 DESIREE SOUZA GONCALVES Master http://lattes.cnpq.br/3957328524360494
3 FLAVIO AUGUSTO FERREIRA MARTINS BEZERRA Master http://lattes.cnpq.br/1717066274329803
4 GABRIEL FONSECA SARMANHO Master http://lattes.cnpq.br/6973225121960746
5 LUIZ HENRIQUE DA CONCEICAO LEAL Master http://lattes.cnpq.br/8849370590932263
6 MARCIO VIEIRA MACHADO FERNANDES Master http://lattes.cnpq.br/4659829389307887
7 MARCOS ANTONIO HERMOSA BAEZ Master http://lattes.cnpq.br/2217680032573189
8 MARCUS VINICIUS VIEGAS PINTO Master http://lattes.cnpq.br/7633804549211481
9 NATALIA GONCALVES RAMOS Master http://lattes.cnpq.br/3164537203461348
10 RUAN CARVALHO MAYWORM Doctorate http://lattes.cnpq.br/5951712664292058
11 VANESSA KAPPS Doctorate http://lattes.cnpq.br/2882093653568690


Contact us

+ 55 (21) 2145-3121 | ppgmetrologia@inmetro.gov.br

 

Tags: education and research
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